產品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產品中心光譜系統半導體晶圓缺陷檢測儀半導體晶圓缺陷檢測儀
產品簡介
半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術，通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
相關文章
半導體晶圓缺陷檢測儀這款高度集成的桌面儀器利用亮場和暗場顯微成像技術，通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。設備主要用于檢測如襯底片和外延片的缺陷，包括位錯、顆粒、凹坑、劃痕和污染等類型的瑕疵，并且可以根據客戶的需求進行定制服務
光學成像系統：
10X 遠場消色差長工距顯微鏡頭
0.8X 擴視野相機轉接鏡筒
500萬像素采集相機
LED同軸反射光源
輔助自動聚焦激光傳感器
自動運動平臺：包括4寸，6寸和8寸Wafer載物臺夾具1套
計算機系統
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-33897997
公司地址： 上海市浦東新區周康路26號E棟408
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業文化 榮譽資質 聯系我們快速通道
產品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統 RU120便攜式拉曼光譜儀
產品分類
上一個：
返回列表